- 31.200
- 31.200 - Інтегровані схеми. МікроелектронікаГОСТ 4.465-87 - СПКП. Микросхемы интегральные. Номенклатура показателейГОСТ 17021-88 - Микросхемы интегральные. Термины и определения. - Взамен ГОСТ 17021-75ГОСТ 17230-71 - Микросхемы интегральные. Ряд питающих напряженийГОСТ 17447-72 - Микросхемы интегральные для цифровых вычислительных машин и устройств дискретной автоматики. Основные параметры (в части п. 2 заменен ГОСТ 23622-79, в части пп. 3 и 4 - ГОСТ 24459-80, в части пп. 5 и 6 - ГОСТ 24460-80)ГОСТ 17467-88 - Микросхемы интегральные. Основные размеры. - Взамен ГОСТ 17467-79ГОСТ 18683.0-83 - Микросхемы интегральные цифровые. Общие требования при измерении электрических параметров. - Взамен ГОСТ 18683-76 в части разд. 1, 2ГОСТ 18683.1-83 - Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения статических электрических параметров. - Взамен ГОСТ 18683-76 в части пп. 3.1-3.10ГОСТ 18683.2-83 - Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения динамических электрических параметров. - Взамен ГОСТ 18683-76 в части п. 3.11ГОСТ 18725-83 - Микросхемы интегральные. Общие технические условия. - Взамен ГОСТ 18725-73ГОСТ 19480-89 - Микросхемы интегральные. Термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров. - Взамен ГОСТ 19480-74ГОСТ 19799-74 - Микросхемы интегральные аналоговые. Методы измерения электрических параметров и определения характеристик (в части общих требований к аппаратуре заменен ГОСТ 30350-96)ГОСТ 23089.0-78 - Микросхемы интегральные. Общие требования при измерении электрических параметров операционных усилителей и компараторов напряженияГОСТ 23089.1-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента усиления операционных усилителей и компараторов напряженияГОСТ 23089.2-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения максимального выходного напряжения операционных усилителейГОСТ 23089.3-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения напряжения и ЭДС смещения нуля операционных усилителей и компараторов напряженияГОСТ 23089.4-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения входных токов и разности входных токов операционных усилителей и компараторов напряженияГОСТ 23089.5-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения тока потребления и потребляемой мощности операционных усилителей и компараторов напряженияГОСТ 23089.6-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения времени установления выходного напряжения операционных усилителейГОСТ 23089.7-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и ЭДС смещения нуля операционных усилителейГОСТ 23089.8-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и ЭДС смещения нуля операционных усилителейГОСТ 23089.9-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителейГОСТ 23089.10-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителейГОСТ 23089.11-83 - Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента ослабления синфазных входных напряжений операционных усилителей и компараторов напряженияГОСТ 23089.12-86 - Микросхемы интегральные. Методы измерения шумовых параметров операционных усилителейГОСТ 23089.13-86 - Микросхемы интегральные. Методы измерения частоты среза и частоты единичного усиления операционных усилителейГОСТ 23089.14-88 - Микросхемы интегральные. Методы измерения времени задержки включения и выключения компараторов напряженияГОСТ 23089.15-90 - Микросхемы интегральные. Метод измерения частоты полной мощности операционных усилителейГОСТ 23089.16-90 - Микросхемы интегральные. Метод измерения запаса устойчивости по фазе операционных усилителейГОСТ 23089.17-90 - Микросхемы интегральные. Методы измерения входного и выходного сопротивлений операционных усилителейГОСТ 23622-79 - Элементы логических интегральных микросхем. Основные параметры - Взамен ГОСТ 17447-72 в части п. 2ГОСТ 24459-80 - Микросхемы интегральные запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств. Основные параметры. - Взамен ГОСТ 17447-72 в части пп. 3 и 4, ГОСТ 19420-74 в части запоминающих устройств и элементов запоминающих устройствГОСТ 24460-80 - Микросхемы интегральных цифровых устройств. Основные параметры. - Взамен ГОСТ 17447-72 в части пп. 5 и 6, ГОСТ 19420-74 в части элементов арифметических и дискретных устройствГОСТ 24613.0-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметровГОСТ 24613.1-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкостиГОСТ 24613.2-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения тока утечкиГОСТ 24613.3-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряженияГОСТ 24613.4-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения времени включения и выключения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузкиГОСТ 24613.5-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения нулевого выходного остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузкиГОСТ 24613.6-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляцииГОСТ 24613.7-83 - Оптопары резисторные. Метод измерения светового и темнового выходного сопротивленияГОСТ 24613.8-83 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения критической скорости изменения напряжения изоляции. - Взамен ГОСТ 22440.4-77ГОСТ 24613.9-83 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров. - Взамен ГОСТ 22440.8-77ГОСТ 24613.15-77 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока потребления переключения и длительности тока потребления переключения переключателей логических сигналовГОСТ 26949-86 - Микросхемы интегральные. Метод измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряженияГОСТ 27694-88 - Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметровГОСТ 27780-88 (МЭК 748-1-84) - Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи. Методы измерения электрических параметровГОСТ 28623-90 (МЭК 747-10-84) - Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемыГОСТ 28814-90 - Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряженияГОСТ 29106-91 (МЭК 748-1-84) - Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 1. Общие положенияГОСТ 29107-91 (МЭК 748-2-85) - Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 2. Цифровые интегральные схемыГОСТ 29108-91 (МЭК 748-3-86) - Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 3. Аналоговые интегральные схемыГОСТ 29109-91 (МЭК 748-4-87) - Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 4. Интерфейсные интегральные схемыГОСТ 30350-96 - Микросхемы интегральные аналоговые. Общие требования к измерительной аппаратуре и условиям измерения электрических параметров. - Взамен ГОСТ 19799-74 в части общих требований к аппаратуреДСТУ 2281-93 - Модулі надвисокочастотні. Терміни та визначенняДСТУ 2306-93 - Мікросхеми інтегровані. Терміни та визначенняДСТУ 2383-94 - Мікросхеми інтегровані. Терміни, визначення та літерні позначення електричних параметрівДСТУ 2426-94 - Мікромодулі. Терміни та визначенняДСТУ 3069-95 - Модулі надвисокочастотні. Загальні технічні умовиДСТУ 3212-95 - Мікросхеми інтегровані. Класифікація та система умовних позначеньДСТУ 3758-98 (ГОСТ 30618-99) - Модулі напівпровідникові інтегровані. Загальні технічні вимогиДСТУ IEC 60748-11:2006 - Прилади напівпровідникові. Схеми інтегровані. Частина 11. Групові технічні умови для напівпровідникових інтегрованих схем за винятком гібридних (IEC 60748-11:1990, IDT)ДСТУ IEC 61739:2008 - Схеми інтегровані. Процедури затвердження виробничої лінії та управління якістю (IEC 61739:1996, IDT)—————
Покажчик національних стандартів. 2015.